AOI全自动光学检测仪器较大的优势便是能够 替代之前SMT炉外、炉后的人力目检工作，并且能够 比人的眼睛更的分辨出SMT的打件拼装缺陷。但就好似人的眼睛一般，AOI大部分也仅能实行物品的表层查验，因此只需是物品表层上能看获得的样子，它都能够恰当准确无误的查验出去，但针对藏在零件下边或者零件边沿的点焊很有可能能力有限，自然现在有很多的元器件外观检测早已能够 作到多方位的拍摄来提升其对IC脚翘的验出工作能力，并提升一些被遮掩元器件的拍摄视角，以给予大量的诊断率。

元器件外观检测技术的主要特点：1.高速检测系统，与PCB板帖装密度无关。2.快速便捷的编程系统，图形界面下进行，运用帖装数据自动进行数据检测，运用元件数据库进行检测数据的快速编辑。3.运用丰富的多功能检测算法和二元或灰度水平光学成像处理技术进行检测。4.根据被检测元件位置的瞬间变化进行检测窗口的自动化校正，达到高精度检测。5.通过用墨水直接标记于PCB板上或在操作显示器上用图形错误表示来进行检测电的核对。

元器件外观检测错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困、检验错判的界定及存有原困错判的三种了解及造成缘故能够 分成以下几个方面：1、元器件及点焊原本有产生欠佳的趋向，但处在允收范畴。如元器件原本发生了偏位，但在允收范畴内；该类错判主要是因为预设值设置过严导致的，也可能是其自身处于欠佳与优品规范中间，AOI与MV(人力目检)确定导致的误差，该类错判是能够 根据调节及与MV融洽规范来减少。2、元器件及点焊无不良倾向，但因为DFM设计方案时未考虑到AOI的可测性，而导致AOI判断良是否有一定的难度系数，为确保验出实际效果，将引进一些错判。如焊层设计方案的太窄或过短，元器件外观检测开展检验时较难开展很的判断，此类情况所导致的错判较难清除，除非是改善DFM或舍弃该类元器件的点焊欠佳检验。