混合信号的LSI试验系统

WL27 WL27H

面向车载设备、电源IC、电池管理IC，检漏仪NLT-360，各种驱动IC等

WL 27逻辑LSI力量混合型测试系统系列，多引脚化的新模型登场。车载驱动和马达驱动等A / D混合型的功率装置的同时测量适合。追求高产量、高成本性能的解决方案的混合性信号LSI测试系统。

主な仕

Test Rate:20/40 MHz

Digital Pins:256 pins、256 PPS (WL27H)

128 pins、128 PPS (WL27)

DSP Module

　AFG:16 bits/10 Msps

　ADGT:16 bits/10 Msps

　VFG:14 bits/240 Msps

　VDGT:14 bits/80 Msps

High Power V/Iソ`ス:±60 V/±10 A搭d可能

SD卡存储系统SDMEMO检漏仪NAKK

SD卡存储系统SD MEMO；高精度差压校验仪NC-200；高精度直压校验仪NC-201

数字检漏仪 DLC-100；检漏仪NT-100

SD卡存储系统SD MEMO

特点：

只需将此设备连接到NAKK检漏仪，您就可以将日常数据保存在SD中，在计算机上将其转换为CSV格式，并使用电子表格软件分析数据。

电源：直流5V

数据：可存储60，000个数据（2GB以内，NLT-220检漏仪，具体取决于SD内存容量）；Excel 2007 及更高版本为 1，048，检漏仪，576

展示：状态LED显示；错误、写入等

联系：RS232C

配件：连接电缆（泄漏测试仪?SD MEMO）；直流电源；使用说明书

尺寸：W103?D62?H23

TRT - 1000过渡热测试系统（200V / 50 A

TRT - 1000，MOS - fet，晶体管等过渡热抵抗（θJC）PN junction的顺序电压温度变化成正比特性利用ΔVF测定，规定值相比，NLT-370检漏仪，判定分类的检测

特征

因为测定电路上不使用机械继电器电路结构时间短

前台测量UNIT为Head橙盒用交换连接的结构，适合的环境中实现的测量电路

可以任意设定测量电流，接触电阻的测量值表示

根据测量中各终端波形的PC显示，波形的观测容易

自我诊断功能各Bias电路故障容易发现

drain voltage（VD） 10.0V～200.0V0.1V

ΔVBE/ΔVSD/ΔVGE/ΔVCE/ΔVF000.0mV～999.9mV0.1mV

ΔVBE/ΔVSD/ΔVGE/ΔVCE/ΔVF0000mV～9999mV1mV

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